中村研志望の皆様へ

■はじめに
中村(信)研では、世界有数の多価イオン源を使って、ここでしか出来ない多価イオン原子物理の研究を行っています。 「どんなことをやっているの?」「どんなところ?」と思ったらぜひ一度遊びに来て下さい。 研究の内容、研究室の雰囲気などなどは、実際に研究室に行ってみないとなかなか分からないものです。 3年生の皆さんはもちろん、1,2年生の皆さんも歓迎します。

■志望学生に望むこと
一つ、 元気→重要、成績→不問。
一つ、 習うより慣れろ。
一つ、 時間厳守。

研究室のあれこれ

分野:一言で言うと「原子物理」
関連分野:核融合、天文、プラズマ科学、表面科学、ナノテクノロジー、イオン源工学、…
国内共同研究:核融合科学研究所、国立天文台、筑波大学
国際共同研究:上海復旦大学、北京応用物理計算数学研究所、
       クィーンズ大学ベルファスト、四川レーザー核融合研究所
関連学協会:日本物理学会、原子衝突学会、原子分子データ応用フォーラム

解説記事など

「中村(信)研究室」紹介(OPAL-RING No.9)

■多価イオン原子過程の基礎と拡がる応用研究(プラズマ・核融合学会誌小特集)
 1.はじめに(中村信行)
 2.多価イオン原子過程の基礎
  2.1.電子−多価イオン(渡辺裕文, 加藤太治)
  2.2.多価イオン−原子・分子・固体表面(本橋健次)
 3.多価イオン生成の方法(坂上裕之, 中村信行)
 4.多価イオンの応用
  4.1.高温プラズマ中の多価イオンとそのプラズマ診断への応用(佐藤国憲)
  4.2.多価イオンを用いたプラズマ光源(田沼肇, 佐々木明)
  4.3.ナノテクノロジーへの応用(櫻井誠)
  4.4.高品質多価イオンビームの発生(池田時浩, 大島永康)

これまでの論文テーマ

■2015年度
(M2)重元素多価イオンの極端紫外域スペクトルの観測
(M2)多電子多価イオンの原子構造の研究
(M2)鉄多価イオン発光線強度比の電子密度依存性測定
(B4)ホルミウム多価イオンの発光線の観測
(B4)ニッケル様イオンの禁制線の観測
(B4)タングステン多価イオンの可視領域発光線の観測
(B4)多価イオン源製作に向けた磁場集束電子ビーム軌道計算

■2014年度
(M2)プラズマ短波長光源関連イオンのスペクトル測定
(M2)プロメチウム様多価イオンの分光測定
(B4)タングステン多価イオン発光線の観測と同定
(B4)多価イオンの発光強度比による電子密度診断
(B4)飛行時間測定法による多価イオンの価数分析
(B4)走査型トンネル顕微鏡によるグラファイト基板上イオン照射痕の観察

■2013年度
(M2)極端紫外領域における多価イオンの電荷交換分光
(M2)二電子性再結合により放出されるX線の偏光測定
(B4)プラズマ光源関連イオンの分光測定
(B4)多価イオン照射による半導体試料改質の試み
(B4)鉄多価イオン発光線強度比の電子密度依存性測定

■2012年度
(M2)硬X線用偏光計の製作
(M2)走査型プローブ顕微鏡による多価イオン照射痕の観測
(M2)タングステン多価イオン発光線の観測
(M2)小型イオン源から引き出された多価イオンビームの評価
(B4)小型イオン源による多価イオンビームの特性
(B4)タングステン多価イオンの分光測定
(B4)極端紫外分光器の開発

■2011年度
(M2)電子ビームイオントラップを用いた多価イオンの分光測定
(M2)多価イオンと固体表面との相互作用の研究
(M2)小型多価イオン源用ビームラインの製作
(B4)多価イオン表面衝突における発光過程の観測
(B4)GaAsを用いたスピン偏極電子線源の製作

■2010年度
(M2)タングステン多価イオンの可視スペクトル測定
(B4)走査型トンネル顕微鏡による多価イオン照射痕の観測
(B4)電子ビームイオントラップ制御システムの開発

■2009年度
(M2)多価イオンの極端紫外域スペクトルの観測
(B4)小型電子ビームイオントラップを用いた多価イオンの可視スペクトルの観測
(B4)小型電子ビームイオントラップを用いた多価イオンの極端紫外スペクトルの観測

■2008年度
(M2)電子ビームイオントラップから引き出された多価イオンの診断とその応用
(B4)多価イオンの可視分光測定(1)
(B4)多価イオンの可視分光測定(2)

■2007年度
(M2)鉄多価イオン分光用イオン源の製作と評価
(B4)小型電子ビームイオントラップを用いた多価イオンの視光分光
(B4)多価イオンビームのエミッタンス測定

■2006年度
(M2)電子-多価イオン測定における二次電子性再結合過程の高分解能X線分光測定
(B4)イオン-磁性体衝突における二次電子のスピン測定
(B4)多価イオンの二次電子性再結合過程の高分解能X線分光測定
(B4)鉄多価イオン分光用小型イオン源の製作

■2005年度
(B4)イオン-表面衝突における二次電子エネルギー分析
(B4)イオン-表面衝突実験用二次電子スピン分析装置の製作

■2004年度
(B4)多価イオン-固体表面衝突における スパッタリング測定のためのMCP検出効率測定
(B4)多価イオンの共鳴過程観測のための測定システム開発